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紅外干涉測量設(shè)備 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品描述:紅外干涉測量技術(shù), 非接觸式測量
產(chǎn)品型號:FSM 413 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測儀 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品描述:光學(xué)設(shè)計減少圖形襯底對激光的干涉。
產(chǎn)品型號:薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測儀 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品描述:FSM128系列設(shè)備,裝備有光學(xué)掃描系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號:FSM 128 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品描述:FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性
產(chǎn)品型號:FSM 500TC 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
Line Card薄膜應(yīng)力測量儀 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品描述:
產(chǎn)品型號:Line Card 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測量設(shè)備 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品描述:連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測量設(shè)備設(shè)計, 片電阻不受針尖距離影響多種型號以供選擇
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言 -
全自動紫外線芯片應(yīng)力測量儀 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品描述:全自動紫外線芯片應(yīng)力測量儀一臺全自動紫外線——可見光RAMan儀器,主要用與測量芯片應(yīng)力。
產(chǎn)品型號:FSM360 所在地:上海市 更新時間:2025-08-12 參考價: 面議 在線留言